Knihy od autora David G. Seiler

Zobrazené 1 – 3 z 3 výsledkov

1. 

   Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

   David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald | Springer, Berlin, 2007

   
   

   50 % šanca - Prehľadáme celý svet

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   156.44 €

   Zľava 0 %

   Ušetríte 0.05 €

   Kúpiť
2. 

   Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

   Eric M. Secula, David G. Seiler, Rajinder P. Khosla, Dan Herr | Springer, Berlin, 2009

   
   

   50 % šanca - Prehľadáme celý svet

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   211.39 €

   Zľava 0 %

   Ušetríte 0.01 €

   Kúpiť
3. 

   Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003

   David G. Seiler, Alain C. Diebold, Thomas J. Shaffner, Robert McDonald | Springer, Berlin, 2003

   
   

   50 % šanca - Prehľadáme celý svet

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   186.94 €

   Zľava 0 %

   Ušetríte 0.04 €

   Kúpiť

Poskytujeme zľavy pre študentov, učiteľov a držiteľa ISIC. Zistite viac